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蔡司超景深顯微鏡結合了高分辨率和高對比度的光學設計，能夠捕捉細微的結構細節，提供清晰、精確的圖像。這些顯微鏡通常配備高性能的鏡頭系統和先進的圖像處理軟件，確保了圖像質量的穩定性和準確性。

X 射線顯微鏡 高分辨3D X射線顯微鏡 蔡司三維 X 射線顯微鏡（XRM）：即便是相對較大的樣品，先進的成像解決方案也可以借助高襯度和亞微米分辨率出色地完成三維成像。在無損三維（3D）成像方面取得的這一系列突破性飛躍，大大拓寬了技術學科的研究范圍。

Xradia Context microCT 顯微鏡一款大視場、非破壞性3D X射線微米計算機斷層掃描系統。憑借強大的平臺和靈活的軟件控制源及探測器定位，您可以在完整的三維環境中對大尺寸、重量25 kg內和高尺度樣本進行成像，同樣也可以對小樣品進行高分辨率的成像。

蔡司X射線納米斷層成像和熒光顯微技術，蔡司 Xradia Synchrotron 系列顯微鏡 蔡司在同步加速器實驗室中的X射線顯微鏡裝機量全球靠前，藉此不斷提升先進研究機構的實力。在實驗室內引入蔡司X射線納米斷層成像和熒光顯微技術，讓耗時且耗費財力的內部開發成為過去。

創新的 蔡司 Xradia 800 Ultra X射線顯微鏡，將高通量實驗室 X 射線源與專業的X 射線光學器件整合至一套獨立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中，從而填SEM、TEM 或 AFM 等現有高分辨率成像技術與光學顯微鏡技術或傳統 microCT 技術之間的空白。

蔡司 Xradia 810 Ultra X射線顯微鏡 將納米級三維 X 射線的成像性能提升 10 倍。這款創新的 X 射線顯微鏡（XRM） 能在 5.4 keV 的低能量下工作，為中低原子序數樣品及科學與工業領域內的材料成像提供更出色的反差和圖像質量。

蔡司 Xradia 410 Versa X射線顯微鏡 高性能三維 X 射線顯微鏡技術解決方案與傳統低成本、低性能且基于投影的計算機斷層掃描（CT）系統之間的空白。多種射線源的選擇可靈活應對多種樣品尺寸和樣品類型的成像應用。

沿襲前一代的獲獎設計，射線顯微鏡Xradia 510 Versa已然成為 Xradia Versa 系列中擁有出色三維成像性能的基本款型，但其不包含旗艦產品的高級功能與特性。